Ученые получили изображения отдельных атомов с невиданной ранее четкостью.

Международная группа исследователей улучшила методику птихографии, достигнув пределов её разрешающей способности. На сделанной изображении различимы отдельные атомы, а незначительные искажения возникли из-за их термических колебаний.

Некоторые атомы в кристаллической решетке PrScO3 с структурой перовскита.

Группа учёных, возглавляемая Дэвидом Мюллером, работала на грани возможностей современных измерительных методик. David A. MullerЭтот профессор инженерных наук из Корнелльского университета установил предыдущий рекорд в этой области три года назад. В статье описана работа американских, швейцарских и немецких физиков. размещена в журнале ScienceАссоциация по содействию развитию науки. AAASПоскольку публикация закрыта, потрясающие изображения, большая часть которых, к сожалению, понятна только специалистам, можно увидеть. препринте научной работы на портале arXiv.

Птихография превосходит все другие методы, в том числе атомно-силовые и сканирующие туннельные микроскопы, по возможности различать отдельные атомы. Этот метод исследует внутреннее строение вещества, а не ограничивается его поверхностью. В упрощённом виде принцип птихографии таков: на образец направляется слегка расфокусированный луч электронов или рентгеновского излучения. За объектом установлен приемник, формирующий интерферометрическую картину из электронов или фотонов.

Иллюстрация принципа многослойной птихографии: схема установки, пучок электронов (прозрачный прямоугольник указывает расположение образца), волновые функции отсканированных слоев (по 5 нанометров на слой), совмещенные картины нескольких слоев (верхний ряд) и одиночное результирующие изображения в зависимости от толщины образца (кружком выделены атомы празеодима, треугольником — скандия, квадратом — кислорода), фазы атомов на своих местах в кристаллической решетке в зависимости от толщины образца.

Изучая полученный сигнал, компьютер восстанавливает положение отклонившихся фотонов или электронов атомов. Несмотря на совершенствование метода, есть существенные ограничения: толщина исследуемого образца пока не превышает нескольких десятков нанометров. Чем больше эта толщина, тем мощнее требуется компьютер для анализа сигналов и восстановления картинки, а также сильнее шум и искажения на ней. Команда Мюллера разрабатывает способы дальнейшего улучшения технологии.

Команда Мюллера провела сравнение с помощью других методов съемки изучаемого образца. На фотографии представлен результат исследования кристалла PrScO3 при помощи просвечивающего растрового электронного микроскопа (STEM) в разных режимах работы (A, B) и после обработки сигналов на компьютере (C). Масштабная линейка равна половине нанометра / ©DOI: 10.1126/science.abg2533.

В последнем эксперименте, приблизившись к теоретическому пределу кристаллографии, физики направили пучок электронов под разными углами на тонкий кристалл. PrScO3Результаты исследования четко продемонстрировали трехмерную структуру перовскита из атомов празеодима, скандия и кислорода. В работе для сравнения представлены примеры подобных исследований с использованием других методов визуализации.

По мнению Мюллера, работа его коллег напоминает покупку новых очков после долгого пользования очками с очень слабыми линзами. Ученые теперь нетерпеливо стремятся применять улучшенную птихографию на самых разных объектах — от полупроводниковых кристаллов (для поиска в них изъянов) до живых нейронов (для изучения субмолекулярных процессов, протекающих в нервной ткани). Помимо расширения списка образцов, которые физики собираются поместить под новый «микроскоп», думают и над расширением возможностей метода.

Существует простой способ увеличить разрешающую способность — взять образец из атомов наибольшей массы и охладить его до температуры, близкой к абсолютному нулю.
Однако, если разница в четкости картинки между результатами 2018 года и текущей работой почти два порядка, то охлаждение не даст такого же прироста.
Также можно использовать суперкомпьютеры и нейронные сети для ускорения расчета данных, получаемых приемником излучения. Последнее улучшение, скорее всего, не повысит разрешение метода, но позволит сканировать более крупные структуры.